| Quantité: | |
|---|---|
TN
Platine d'échantillonnage PLD à 4 axes
Paramètre du produit :
Conduire un objet | Longueur du voyage | Taper |
X | ±10,0 mm | Contrôlé manuellement ou par moteur |
Y | ±10,0 mm | Contrôlé manuellement ou par moteur |
Z | 0 ~ 100 mm | Contrôlé manuellement ou par moteur |
Rotation de l'arbre dans le plan | Infini, réglable vitesse | Contrôlé manuellement ou par moteur |
Taille du substrat | Φ20-60mm | |
Mode chauffage | SiC, résistance à l'oxygène | |
Température de chauffage | >900 ℃, température différence < 1 ℃ | |
Baffle | Alternative | |
Bride | ICF152 (CF100) | |
Platine d'échantillonnage PLD à 4 axes
Paramètre du produit :
Conduire un objet | Longueur du voyage | Taper |
X | ±10,0 mm | Contrôlé manuellement ou par moteur |
Y | ±10,0 mm | Contrôlé manuellement ou par moteur |
Z | 0 ~ 100 mm | Contrôlé manuellement ou par moteur |
Rotation de l'arbre dans le plan | Infini, réglable vitesse | Contrôlé manuellement ou par moteur |
Taille du substrat | Φ20-60mm | |
Mode chauffage | SiC, résistance à l'oxygène | |
Température de chauffage | >900 ℃, température différence < 1 ℃ | |
Baffle | Alternative | |
Bride | ICF152 (CF100) | |
